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Zusammenfassung und Ausblick
Per SchreiberErledigt
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Intelligente Leiterplattenprüfung / Anwendersicht
Petra HildebrandtErledigt
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Intelligente Muster- und Lageerkennung
Christian JustErledigt
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Begrüßung und Einführung
Rainer Wilkens , Per SchreiberErledigt
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Autonomes Rüsten
Jens KönigsmannErledigt
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Systemintegration
Malte BonhageErledigt
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Kaffeepause
Erledigt
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Q&A Session, Abschluss
Erledigt
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Vorstellung der Fa. Sennheiser
Andreas GrüningErledigt
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Future Factory
Rainer WilkensErledigt
Intelligente Leiterplattenprüfung / Data Scientist Sicht
29.06.22, 10:30
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29.06.22, 10:50
(-0400)
(20 Minuten)
Andrea Suckro
Die veschiedenen Leiterplattentypen haben jeweils eine eigene Prüfsequenz mit unterschiedlen Testschritten, die durchlaufen werden. Pseudofehler sind bei pro Leiterplattentyp unterschiedlich häufig vertreten oder ausgeprägt – dadurch haben wir ein Model pro Leiterplatte nun im Betrieb. Durch die Datenlage kommen nur Modelklassen in Frage, die auch mit wenigen Beispielen gut lernen können. Wir prüfen dabei verschiedene Ensemble Methoden, SVMs und einfache Entscheidungsbäume um das beste Model für jede Leiterplatte zu finden. Alle Modelle lernen jedoch den gleichen Klassifizierungs-Task: Prüfdaten einer Leiterplatte -> LP defekt, Retest, Teststationsfehler?